場發(fā)射掃描電子顯微鏡預(yù)公告
1.采購項(xiàng)目：場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）1臺
- 關(guān)鍵技術(shù)要求：
1）分辨率：
（1）優(yōu)于1.0nm@30keV。
（2）優(yōu)于0.5nm@15keV。
（3）優(yōu)于1.0nm@1keV。
2）放大倍數(shù)范圍：12X～1,000,000X，連續(xù)可調(diào)。
3）樣品室尺寸：內(nèi)部直徑≥300mm，高度≥250mm。
4）樣品臺移動范圍：x=y≥120mm，z軸≥40mm。
3.有意向進(jìn)行技術(shù)交流的潛在投標(biāo)人可自本公告之日起至2025年7月4日，每天（節(jié)假日除外）北京時間9:00-16:00時與以下業(yè)務(wù)聯(lián)系人通過電話或郵件溝通交流。
業(yè)務(wù)聯(lián)系人：金露
業(yè)務(wù)聯(lián)系電話：15821159610
電子郵件：samclhjl1@comac.cc
地址：上飛路919號上海飛機(jī)制造有限公司
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